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शुद्ध या शुद्ध भाप आधारित फार्मास्युटिकल प्रणालियों में जनरेटर, नियंत्रण वाल्व, वितरण पाइप या पाइपलाइन, थर्मोडायनामिक या संतुलन थर्मोस्टेटिक ट्रैप, प्रेशर गेज, प्रेशर रिड्यूसर, सेफ्टी वाल्व और वॉल्यूमेट्रिक एक्यूमुलेटर शामिल होते हैं।
इनमें से अधिकांश भाग 316 एल स्टेनलेस स्टील से बने होते हैं और इनमें फ्लोरोपॉलिमर गैसकेट (आमतौर पर पॉलीटेट्राफ्लोरोएथिलीन, जिसे टेफ्लॉन या पीटीएफई के नाम से भी जाना जाता है), साथ ही अर्ध-धातु या अन्य लोचदार सामग्री शामिल होती है।
उपयोग के दौरान ये घटक संक्षारण या क्षरण के प्रति संवेदनशील होते हैं, जिससे तैयार स्वच्छ भाप (सीएस) की गुणवत्ता प्रभावित होती है। इस लेख में वर्णित परियोजना में चार सीएस प्रणाली केस स्टडी से स्टेनलेस स्टील के नमूनों का मूल्यांकन किया गया, प्रक्रिया और महत्वपूर्ण इंजीनियरिंग प्रणालियों पर संभावित संक्षारण प्रभावों के जोखिम का आकलन किया गया और संघनन में कणों और धातुओं की जांच की गई।
संक्षारण से प्रभावित पाइपिंग और वितरण प्रणाली घटकों के नमूनों को संक्षारण उप-उत्पादों की जांच के लिए रखा गया था।9 प्रत्येक विशिष्ट मामले के लिए, विभिन्न सतह स्थितियों का मूल्यांकन किया गया। उदाहरण के लिए, मानक ब्लश और संक्षारण प्रभावों का मूल्यांकन किया गया।
संदर्भ नमूनों की सतहों पर लालिमा जमाव की उपस्थिति का आकलन दृश्य निरीक्षण, ऑगर इलेक्ट्रॉन स्पेक्ट्रोस्कोपी (एईएस), रासायनिक विश्लेषण के लिए इलेक्ट्रॉन स्पेक्ट्रोस्कोपी (ईएससीए), स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (एसईएम) और एक्स-रे फोटोइलेक्ट्रॉन स्पेक्ट्रोस्कोपी (एक्सपीएस) का उपयोग करके किया गया था।
इन विधियों से संक्षारण और निक्षेपों के भौतिक और परमाणु गुणों का पता लगाया जा सकता है, साथ ही तकनीकी तरल पदार्थों या अंतिम उत्पादों के गुणों को प्रभावित करने वाले प्रमुख कारकों का भी निर्धारण किया जा सकता है।
स्टेनलेस स्टील के संक्षारण उत्पाद कई रूप ले सकते हैं, जैसे कि आयरन ऑक्साइड की परत (काला या ग्रे) के नीचे या ऊपर की सतह पर आयरन ऑक्साइड (भूरा या लाल) की कारमाइन परत। 2. नीचे की ओर पलायन करने की क्षमता।
समय के साथ आयरन ऑक्साइड की परत (काली लालिमा) मोटी हो सकती है क्योंकि जमाव अधिक स्पष्ट हो जाता है, जैसा कि भाप से नसबंदी के बाद नसबंदी कक्ष और उपकरण या कंटेनरों की सतहों पर दिखाई देने वाले कणों या जमाव से स्पष्ट होता है, जिसमें स्थानांतरण होता है। संघनन नमूनों के प्रयोगशाला विश्लेषण से कीचड़ की बिखरी हुई प्रकृति और सीएस द्रव में घुलनशील धातुओं की मात्रा का पता चला।
इस घटना के कई कारण हैं, लेकिन आमतौर पर सीएस जनरेटर ही इसका मुख्य कारण होता है। सतहों पर लाल लौह ऑक्साइड (भूरा/लाल) और वेंट में लौह ऑक्साइड (काला/धूसर) का पाया जाना असामान्य नहीं है, जो धीरे-धीरे सीएस वितरण प्रणाली से होकर गुजरता है। 6
सीएस वितरण प्रणाली एक शाखाबद्ध संरचना है जिसमें कई उपयोग बिंदु होते हैं जो दूरस्थ क्षेत्रों में या मुख्य हेडर और विभिन्न शाखा उपहेडरों के अंत में समाप्त होते हैं। इस प्रणाली में कई नियामक शामिल हो सकते हैं जो संभावित संक्षारण बिंदुओं पर दबाव/तापमान में कमी लाने में मदद करते हैं।
स्वच्छ डिजाइन वाले ट्रैप में भी जंग लग सकता है, जिन्हें सिस्टम में विभिन्न बिंदुओं पर रखा जाता है ताकि ट्रैप, डाउनस्ट्रीम पाइपिंग/डिस्चार्ज पाइपिंग या कंडेनसेट हेडर के माध्यम से बहने वाली स्वच्छ भाप से कंडेनसेट और हवा को हटाया जा सके।
अधिकांश मामलों में, विपरीत दिशा में जंग का स्थानांतरण होने की संभावना होती है, जहां जंग के जमाव ट्रैप पर बनते हैं और ऊपर की ओर बढ़ते हुए आस-पास की पाइपलाइनों या उपयोग-बिंदु संग्राहकों तक पहुँच जाते हैं; ट्रैप या अन्य घटकों में बनने वाली जंग को स्रोत के ऊपर की ओर देखा जा सकता है, जिसका निरंतर स्थानांतरण नीचे की ओर और ऊपर की ओर होता रहता है।
कुछ स्टेनलेस स्टील घटकों में डेल्टा फेराइट सहित विभिन्न प्रकार की मध्यम से उच्च स्तर की धातुकर्म संरचनाएं भी पाई जाती हैं। माना जाता है कि फेराइट क्रिस्टल संक्षारण प्रतिरोध को कम करते हैं, भले ही वे केवल 1-5% मात्रा में ही मौजूद हों।
फेराइट की संक्षारण प्रतिरोधक क्षमता ऑस्टेनिटिक क्रिस्टल संरचना जितनी नहीं होती, इसलिए इसमें संक्षारण होने की संभावना अधिक होती है। फेराइट को फेराइट प्रोब से सटीक रूप से और चुंबक से अर्ध-सटीक रूप से पता लगाया जा सकता है, लेकिन इसकी कुछ महत्वपूर्ण सीमाएँ हैं।
सिस्टम सेटअप से लेकर, प्रारंभिक कमीशनिंग और नए सीएस जनरेटर और वितरण पाइपिंग के स्टार्टअप तक, कई कारक हैं जो जंग लगने में योगदान करते हैं:
समय के साथ, इस प्रकार के संक्षारक तत्व जब लोहे और लोहे के मिश्रण से मिलते हैं, जुड़ते हैं और एक दूसरे पर चढ़ते हैं, तो संक्षारण उत्पाद उत्पन्न कर सकते हैं। काला धुआं आमतौर पर सबसे पहले जनरेटर में दिखाई देता है, फिर यह जनरेटर के डिस्चार्ज पाइप में और अंततः पूरे सीएस वितरण प्रणाली में फैल जाता है।
संक्षारण उप-उत्पादों की सूक्ष्म संरचना का पता लगाने के लिए SEM विश्लेषण किया गया, जो क्रिस्टल और अन्य कणों से पूरी सतह को ढके हुए थे। जिन पृष्ठभूमि या अंतर्निहित सतह पर ये कण पाए जाते हैं, वे विभिन्न प्रकार के लोहे (चित्र 1-3) से लेकर सामान्य नमूनों, जैसे कि सिलिका/लोहा, रेतीली, कांच जैसी, समरूप जमाव (चित्र 4) तक भिन्न-भिन्न थे। स्टीम ट्रैप बेल्लो का भी विश्लेषण किया गया (चित्र 5-6)।
एईएस परीक्षण स्टेनलेस स्टील की सतह रसायन का निर्धारण करने और उसके संक्षारण प्रतिरोध का निदान करने के लिए प्रयुक्त एक विश्लेषणात्मक विधि है। यह संक्षारण के कारण सतह के क्षरण के साथ-साथ निष्क्रिय परत के क्षय और उसमें क्रोमियम की सांद्रता में कमी को भी दर्शाता है।
प्रत्येक नमूने की सतह की मौलिक संरचना का पता लगाने के लिए, एईएस स्कैन (गहराई के अनुसार सतह के तत्वों की सांद्रता प्रोफाइल) का उपयोग किया गया था।
एसईएम विश्लेषण और संवर्धन के लिए उपयोग किए गए प्रत्येक स्थल को विशिष्ट क्षेत्रों से जानकारी प्रदान करने के लिए सावधानीपूर्वक चुना गया है। प्रत्येक अध्ययन ने शीर्ष कुछ आणविक परतों (प्रति परत 10 एंगस्ट्रॉम [Å] अनुमानित) से लेकर धातु मिश्र धातु की गहराई (200-1000 Å) तक की जानकारी प्रदान की।
रूज के सभी क्षेत्रों में लौह (Fe), क्रोमियम (Cr), निकेल (Ni), ऑक्सीजन (O) और कार्बन (C) की महत्वपूर्ण मात्रा दर्ज की गई है। एईएस डेटा और परिणाम केस स्टडी अनुभाग में दिए गए हैं।
प्रारंभिक परिस्थितियों के लिए समग्र एईएस परिणाम दर्शाते हैं कि सतह पर Fe और O (लौह ऑक्साइड) की असामान्य रूप से उच्च सांद्रता और Cr की कम मात्रा वाले नमूनों पर तीव्र ऑक्सीकरण होता है। इस लाल रंग के जमाव के परिणामस्वरूप ऐसे कण निकलते हैं जो उत्पाद और उत्पाद के संपर्क में आने वाली सतहों को दूषित कर सकते हैं।
ब्लश को हटाने के बाद, "निष्क्रिय" नमूनों ने निष्क्रिय फिल्म की पूर्ण पुनर्प्राप्ति दिखाई, जिसमें Cr की सांद्रता Fe की तुलना में उच्च स्तर पर पहुंच गई, जिसमें Cr:Fe सतह अनुपात 1.0 से 2.0 तक था और आयरन ऑक्साइड की समग्र अनुपस्थिति थी।
विभिन्न खुरदरी सतहों का विश्लेषण एक्सपीएस/ईएससीए का उपयोग करके किया गया ताकि Fe, Cr, सल्फर (S), कैल्शियम (Ca), सोडियम (Na), फास्फोरस (P), नाइट्रोजन (N), O और C की मौलिक सांद्रता और वर्णक्रमीय ऑक्सीकरण अवस्थाओं की तुलना की जा सके (तालिका A)।
पैसिविशन परत के निकट क्रोमियम (Cr) की मात्रा में स्पष्ट अंतर देखा गया है, जबकि बेस मिश्र धातुओं में आमतौर पर कम मात्रा पाई जाती है। सतह पर पाए जाने वाले लौह और क्रोमियम के स्तर, रूज डिपॉजिट की विभिन्न मोटाई और ग्रेड को दर्शाते हैं। एक्सपीएस परीक्षणों से पता चला है कि साफ और पैसिविशन की गई सतहों की तुलना में खुरदरी सतहों पर सोडियम (Na), कार्बन (C) या कैल्शियम (Ca) की मात्रा अधिक होती है।
एक्सपीएस परीक्षण में आयरन रेड (ब्लैक) रेड और Fe(x)O(y) (आयरन ऑक्साइड) रेड में कार्बन की उच्च मात्रा पाई गई। संक्षारण के दौरान सतह में होने वाले परिवर्तनों को समझने के लिए एक्सपीएस डेटा उपयोगी नहीं है क्योंकि यह रेड मेटल और बेस मेटल दोनों का मूल्यांकन करता है। परिणामों का सही मूल्यांकन करने के लिए बड़े नमूनों के साथ अतिरिक्त एक्सपीएस परीक्षण की आवश्यकता है।
पूर्व लेखकों को भी एक्सपीएस डेटा का मूल्यांकन करने में कठिनाई हुई थी। 10 निष्कासन प्रक्रिया के दौरान किए गए क्षेत्रीय अवलोकनों से पता चला है कि कार्बन की मात्रा अधिक होती है और प्रसंस्करण के दौरान इसे आमतौर पर छानकर हटा दिया जाता है। झुर्रियाँ हटाने के उपचार से पहले और बाद में लिए गए एसईएम माइक्रोग्राफ इन निक्षेपों के कारण होने वाली सतह की क्षति को दर्शाते हैं, जिसमें गड्ढे और छिद्र शामिल हैं, जो सीधे संक्षारण को प्रभावित करते हैं।
पैसिविशन के बाद प्राप्त एक्सपीएस परिणामों से पता चला कि पैसिविशन फिल्म के पुनः बनने पर सतह पर Cr:Fe सामग्री अनुपात काफी अधिक था, जिससे संक्षारण की दर और सतह पर होने वाले अन्य प्रतिकूल प्रभावों में कमी आई।
कूपन नमूनों में "मूल" सतह और पैसिवेटेड सतह के बीच Cr:Fe अनुपात में उल्लेखनीय वृद्धि देखी गई। प्रारंभिक Cr:Fe अनुपात 0.6 से 1.0 की सीमा में परीक्षण किए गए, जबकि उपचार के बाद पैसिवेटेड अनुपात 1.0 से 2.5 तक रहा। इलेक्ट्रोपॉलिश और पैसिवेटेड स्टेनलेस स्टील के लिए मान 1.5 और 2.5 के बीच हैं।
पोस्ट-प्रोसेसिंग से गुज़रे नमूनों में, Cr:Fe अनुपात की अधिकतम गहराई (AES का उपयोग करके निर्धारित) 3 से 16 Å तक थी। ये कोलमैन2 और रोल9 द्वारा प्रकाशित पिछले अध्ययनों के आंकड़ों से मेल खाती हैं। सभी नमूनों की सतहों पर Fe, Ni, O, Cr और C का स्तर मानक था। अधिकांश नमूनों में P, Cl, S, N, Ca और Na का स्तर भी कम पाया गया।
ये अवशेष रासायनिक सफाई, शुद्ध जल या इलेक्ट्रोपॉलिशिंग के विशिष्ट उदाहरण हैं। आगे के विश्लेषण से पता चला कि ऑस्टेनाइट क्रिस्टल की सतह और विभिन्न स्तरों पर सिलिकॉन संदूषण मौजूद था। ऐसा प्रतीत होता है कि इसका स्रोत पानी/भाप में सिलिका की मात्रा, यांत्रिक पॉलिश या सीएस उत्पादन सेल में घुला हुआ या उत्कीर्णित साइट ग्लास हो सकता है।
सीएस सिस्टम में पाए जाने वाले संक्षारण उत्पादों में काफी भिन्नता पाई जाती है। इसका कारण इन सिस्टमों की बदलती परिस्थितियाँ और वाल्व, ट्रैप और अन्य सहायक उपकरणों जैसे विभिन्न घटकों की स्थिति है, जो संक्षारक स्थितियों और संक्षारण उत्पादों को जन्म दे सकते हैं।
इसके अलावा, सिस्टम में अक्सर ऐसे प्रतिस्थापन घटक शामिल किए जाते हैं जिनका उचित रूप से पैसिवेशन नहीं किया गया होता है। संक्षारण उत्पाद सीएस जनरेटर के डिज़ाइन और पानी की गुणवत्ता से भी काफी प्रभावित होते हैं। कुछ प्रकार के जनरेटर सेट रीबॉयलर होते हैं जबकि अन्य ट्यूबलर फ्लैशर होते हैं। सीएस जनरेटर आमतौर पर स्वच्छ भाप से नमी हटाने के लिए एंड स्क्रीन का उपयोग करते हैं, जबकि अन्य जनरेटर बैफल या साइक्लोन का उपयोग करते हैं।
कुछ पाइपों में वितरण पाइप और उस पर मौजूद लाल लोहे की परत पर लगभग ठोस लोहे की परत जम जाती है। अवरुद्ध ब्लॉक के नीचे लोहे के ऑक्साइड की हल्की परत के साथ एक काली लोहे की फिल्म बन जाती है और सतह पर एक दूसरी तरह की काली परत दिखाई देती है जिसे आसानी से पोंछा जा सकता है।
सामान्यतः, लौहयुक्त कालिख जैसी यह परत लाल रंग की परत की तुलना में कहीं अधिक स्पष्ट और गतिशील होती है। संघनन में मौजूद लोहे की ऑक्सीकरण अवस्था में वृद्धि के कारण, वितरण पाइप के निचले भाग में संघनन चैनल में उत्पन्न गाद में लोहे की गाद के ऊपर लौह ऑक्साइड की गाद की परत होती है।
आयरन ऑक्साइड का जमाव कंडेनसेट कलेक्टर से होकर गुजरता है, नाली में दिखाई देता है, और इसकी ऊपरी परत आसानी से सतह से हट जाती है। पानी की गुणवत्ता जमाव की रासायनिक संरचना में महत्वपूर्ण भूमिका निभाती है।
उच्च हाइड्रोकार्बन सामग्री के कारण लिपस्टिक में अधिक कालिख जमा हो जाती है, जबकि उच्च सिलिका सामग्री के कारण लिपस्टिक की परत चिकनी या चमकदार हो जाती है। जैसा कि पहले बताया गया है, जल स्तर मापने वाले शीशे भी जंग लगने के प्रति संवेदनशील होते हैं, जिससे मलबा और सिलिका सिस्टम में प्रवेश कर सकते हैं।
स्टीम सिस्टम में गन एक चिंता का विषय है क्योंकि इससे मोटी परतें बन सकती हैं जो कण बनाती हैं। ये कण स्टीम की सतहों या स्टीम स्टेरिलाइज़ेशन उपकरणों में मौजूद होते हैं। अगले अनुभागों में दवा के संभावित प्रभावों का वर्णन किया गया है।
चित्र 7 और 8 में दर्शाए गए यथा-स्थिति एसईएम (SEM) से केस 1 में श्रेणी 2 कारमाइन की सूक्ष्मक्रिस्टलीय प्रकृति का पता चलता है। सतह पर लौह ऑक्साइड क्रिस्टलों का एक विशेष रूप से सघन मैट्रिक्स महीन दानेदार अवशेष के रूप में बना था। विसंक्रमित और निष्क्रिय सतहों पर संक्षारण क्षति दिखाई दी, जिसके परिणामस्वरूप चित्र 9 और 10 में दर्शाई गई खुरदरी और थोड़ी छिद्रयुक्त सतह की बनावट बनी।
चित्र 11 में दिखाया गया एनपीपी स्कैन मूल सतह की प्रारंभिक अवस्था को दर्शाता है जिस पर भारी मात्रा में लौह ऑक्साइड मौजूद है। निष्क्रिय और डीरॉग्ड सतह (चित्र 12) इंगित करती है कि निष्क्रिय फिल्म में अब > 1.0 Cr:Fe अनुपात पर Fe (काली रेखा) के ऊपर Cr (लाल रेखा) की मात्रा अधिक है। निष्क्रिय और डीरॉग्ड सतह (चित्र 12) इंगित करती है कि निष्क्रिय फिल्म में अब > 1.0 Cr:Fe अनुपात पर Fe (काली रेखा) के ऊपर Cr (लाल रेखा) की मात्रा अधिक है। Пассивированная и обесточенная поверхность (рис. 12) указывает на то, что пассивная пленка теперь имеет повышенное содержание Cr (красная линия) по сравнению с Fe (черная линия) при соотношении Cr:Fe > 1,0. निष्क्रिय और ऊर्जाहीन सतह (चित्र 12) इंगित करती है कि निष्क्रिय फिल्म में अब Fe (काली रेखा) की तुलना में Cr (लाल रेखा) की मात्रा बढ़ गई है, जहां Cr:Fe का अनुपात > 1.0 है।और अधिक पढ़ें 1.0。 Cr（红线）含量高于Fe（黑线），Cr:Fe मूल्य> 1.0。 Пассивированная и морщинистая поверхность (рис. 12) показывает, что пассивированная пленка теперь имеет более высокое содержание Cr (красная линия), чем Fe (черная линия), при соотношении Cr:Fe > 1,0. निष्क्रिय और झुर्रीदार सतह (चित्र 12) से पता चलता है कि निष्क्रिय फिल्म में अब Cr:Fe अनुपात > 1.0 पर Fe (काली रेखा) की तुलना में Cr सामग्री (लाल रेखा) अधिक है।
आधार धातु और स्केल परत से बनी, 65% से अधिक लौह सामग्री वाली, सैकड़ों एंगस्ट्रॉम मोटी क्रिस्टलीय लौह ऑक्साइड फिल्म की तुलना में एक पतली (< 80 Å) निष्क्रिय करने वाली क्रोमियम ऑक्साइड फिल्म अधिक सुरक्षात्मक होती है।
निष्क्रिय और झुर्रीदार सतह की रासायनिक संरचना अब निष्क्रिय पॉलिश की गई सामग्रियों के समान है। केस 1 में अवक्षेप श्रेणी 2 का है जो उसी स्थान पर बन सकता है; जैसे-जैसे यह जमा होता है, बड़े कण बनते हैं जो भाप के साथ प्रवाहित होते हैं।
इस स्थिति में, दिखाई देने वाला संक्षारण गंभीर खामियों या सतह की गुणवत्ता में गिरावट का कारण नहीं बनेगा। सामान्य झुर्रियाँ सतह पर संक्षारक प्रभाव को कम कर देंगी और कणों के तीव्र संचलन की संभावना को समाप्त कर देंगी जो दिखाई दे सकते हैं।
चित्र 11 में, एईएस के परिणाम दर्शाते हैं कि सतह के निकट मोटी परतों में Fe और O का स्तर अधिक होता है (आयरन ऑक्साइड के 500 Å; क्रमशः नींबू हरे और नीले रंग की रेखाएँ), जो Fe, Ni, Cr और O के डोप्ड स्तरों में परिवर्तित हो जाता है। Fe की सांद्रता (नीली रेखा) किसी भी अन्य धातु की तुलना में बहुत अधिक है, जो सतह पर 35% से बढ़कर मिश्रधातु में 65% से अधिक हो जाती है।
सतह पर, O का स्तर (हल्की हरी रेखा) मिश्रधातु में लगभग 50% से घटकर 700 Å से अधिक की ऑक्साइड फिल्म की मोटाई पर लगभग शून्य हो जाता है। सतह पर Ni (गहरे हरे रंग की रेखा) और Cr (लाल रंग की रेखा) का स्तर अत्यंत कम (< 4%) है और मिश्र धातु की गहराई पर सामान्य स्तर (क्रमशः 11% और 17%) तक बढ़ जाता है। सतह पर Ni (गहरे हरे रंग की रेखा) और Cr (लाल रंग की रेखा) का स्तर अत्यंत कम (< 4%) है और मिश्र धातु की गहराई पर सामान्य स्तर (क्रमशः 11% और 17%) तक बढ़ जाता है। Уровни Ni (темно-зеленая линия) и Cr (красная линия) чрезвычайно низки на वृद्धि (<4%) और अधिक आय (11% और 17%) соответственно) в глубине сплава। सतह पर Ni (गहरे हरे रंग की रेखा) और Cr (लाल रंग की रेखा) का स्तर अत्यंत कम (<4%) है और मिश्रधातु में गहराई में जाकर सामान्य स्तर (क्रमशः 11% और 17%) तक बढ़ जाता है।表面的Ni（深绿线） and Cr（红线）水平极低（< 4%），而在合金深度处增加到正常水平（分别为11% और 17%）。表面的Ni（深绿线） and Cr（红线）水平极低（< 4%），而在合金深度处增加到歌常水平（分别咺11% Уровни Ni (темно-зеленая линия) и Cr (красная линия) на поверхности чрезвычайно низки (<4%) и увеличиваются до но нормального уровня в глубине भुगतान (11% और 17% प्रतिशत)। सतह पर Ni (गहरे हरे रंग की रेखा) और Cr (लाल रंग की रेखा) का स्तर अत्यंत कम (<4%) है और मिश्र धातु में गहराई तक जाकर सामान्य स्तर (क्रमशः 11% और 17%) तक बढ़ जाता है।
चित्र 12 में AES छवि दर्शाती है कि रूज (आयरन ऑक्साइड) परत हट गई है और पैसिविशन फिल्म बहाल हो गई है। 15 Å की प्राथमिक परत में, Cr स्तर (लाल रेखा) Fe स्तर (काली रेखा) से ऊपर है, जो एक पैसिव फिल्म है। प्रारंभ में, सतह पर Ni की मात्रा 9% थी, जो Cr स्तर से 60-70 Å ऊपर (± 16%) बढ़ती है, और फिर 200 Å के मिश्रधातु स्तर तक बढ़ जाती है।
2% से शुरू होकर, कार्बन स्तर (नीली रेखा) 30 Å पर शून्य तक गिर जाता है। Fe का स्तर प्रारंभ में कम (< 15%) होता है और बाद में 15 Å पर Cr के स्तर के बराबर हो जाता है और 150 Å पर 65% से अधिक के मिश्रधातु स्तर तक बढ़ता रहता है। Fe का स्तर प्रारंभ में कम (< 15%) होता है और बाद में 15 Å पर Cr के स्तर के बराबर हो जाता है और 150 Å पर 65% से अधिक के मिश्रधातु स्तर तक बढ़ता रहता है। Уровень Fe вначале низкий (<15%), позже равен уровню Cr при 15 Å и продолжает आपकी आय पर 65% 150 Å की बचत होती है। Fe का स्तर प्रारंभ में कम (< 15%) होता है, बाद में 15 Å पर Cr के स्तर के बराबर हो जाता है और 150 Å पर 65% से अधिक मिश्रधातु स्तर तक बढ़ता रहता है। Fe 含量最初很低(< 15%)，后来在15 Å 时等于Cr 含量，并在150 Å 时继续增加到超过65%的合金含量。 Fe 含量最初很低(< 15%)，后来在15 Å 时等于Cr 含量，并在150 Å 时继续增加到超过65%的合金含量。 Содержание Fe изначально низкое (<15 %), позже оно равняется содержанию Cr при 15 Å и продолжает увеличиваться до содержания сплава более 65 % при 150 Å. शुरुआत में Fe की मात्रा कम (< 15%) होती है, बाद में यह 15 Å पर Cr की मात्रा के बराबर हो जाती है और तब तक बढ़ती रहती है जब तक कि 150 Å पर मिश्रधातु की मात्रा 65% से अधिक नहीं हो जाती।30 Å पर Cr का स्तर सतह के 25% तक बढ़ जाता है और मिश्रधातु में घटकर 17% हो जाता है।
सतह के निकट ऊंचा ऑक्सीजन स्तर (हल्की हरी रेखा) 120 Å की गहराई के बाद शून्य हो जाता है। इस विश्लेषण से एक अच्छी तरह से विकसित सतह निष्क्रियता फिल्म का पता चलता है। चित्र 13 और 14 में एसईएम तस्वीरें सतह की पहली और दूसरी लौह ऑक्साइड परतों की खुरदरी, छिद्रयुक्त और छिद्रपूर्ण क्रिस्टलीय प्रकृति को दर्शाती हैं। झुर्रीदार सतह आंशिक रूप से गड्ढों वाली खुरदरी सतह पर संक्षारण के प्रभाव को दर्शाती है (चित्र 18-19)।
चित्र 13 और 14 में दर्शाई गई निष्क्रिय और झुर्रीदार सतहें तीव्र ऑक्सीकरण को सहन नहीं कर पाती हैं। चित्र 15 और 16 में धातु की सतह पर पुनर्स्थापित निष्क्रिय परत दिखाई गई है।