وريجې. ۱. د سټینلیس سټیل ویلډ د تولید تفتیش طریقه: په TRL حالت کې د دوه اړخیزه میټریکس اسمبلۍ.

کوډونه، معیارونه او میتودونه د اسټینیټیک ویلډونو ازموینې لپاره د RT پرځای د مرحلې سرې الټراسونیک ازموینې (PAUT) کارولو ته اجازه ورکولو لپاره رامینځته شوي. لومړی ځل نږدې 15 کاله دمخه په اټومي بریښنا فابریکو کې په پراخه کچه کارول کیده، د دوه ګوني (2D) سرې سینسر اسمبلۍ کارول تیلو او ګازو او نورو صنعتونو ته خپاره شوي چیرې چې د لوړ کمښت اسټینیټیک ویلډونو ګړندي، باوري او خوندي تفتیش ته اړتیا ده.
وروستي پورټ ایبل فیز شوي صف وسایل د ځواکمن جوړ شوي سافټویر سره سمبال دي چې تاسو ته اجازه درکوي په چټکۍ او مؤثره توګه د 2D میټریکس صف سکینونه تنظیم کړئ، ځای په ځای کړئ او تشریح کړئ پرته لدې چې د پرمختللي سافټویر په کارولو سره د بهرني کیلکولیټرونو یا ریموټ کنټرول سیسټمونو سره رامینځته شوي د تمرکز قانون فایلونه وارد کړئ. د کمپیوټر لپاره سافټویر.
نن ورځ، د 2D صف ټرانسډوسرونو پر بنسټ د تفتیش ټیکنالوژي د سټینلیس سټیل او مختلف فلزي ویلډونو کې د ګیرت او محوري نیمګړتیاو کشف کولو لپاره غوره وړتیاوې چمتو کوي. د معیاري شوي 2D ډبل میټریکس ترتیب کولی شي په مؤثره توګه د سټینلیس سټیل ویلډونو د تفتیش حجم پوښي او کولی شي فلیټ او بلک نیمګړتیاوې کشف کړي.
د الټراساؤنډ تفتیش پروسیجرونه معمولا د دوه اړخیزو میټریکونو دوه ګونی صفونه لري چې د بدلیدونکي ویج شکل لرونکي اجزاو باندې ځای په ځای شوي چې شکلونه یې د غور لاندې برخې بهرني قطر سره سمون لري. د ټیټ فریکونسۍ څخه کار واخلئ - 1.5 MHz د مختلف فلزي ویلډونو او نورو کمښت کمولو موادو لپاره، له 2 MHz څخه تر 3.5 MHz پورې د یونیفورم جوړ شوي سټینلیس سټیل سبسټریټ او ویلډونو لپاره.
د دوه ګوني T/R ترتیب (لیږدول/ترلاسه کول) لاندې ګټې وړاندې کوي: د سطحې نږدې "مړ زون" نه شتون، په ویج کې د داخلي انعکاس له امله رامینځته شوي "فانتوم ایکوز" له منځه وړل، او په نهایت کې غوره حساسیت او د سیګنال څخه شور تناسب (د سیګنال/شور تناسب). د شور شکل)) د T او R بیمونو د کنولوشن له امله.
راځئ چې د آسټینیټیک سټینلیس سټیل ویلډونو د جوړولو کنټرول لپاره د PA UT میتود ته یو نظر واچوو.
کله چې د تولید کنټرول ترسره کوئ، د RT پرځای، کنټرول باید د ویلډ حجم او د تودوخې اغیزمن شوي زون ټول دیوال ضخامت پوښي. په ډیری مواردو کې، د سولډر کیپ به په خپل ځای وي. د کاربن فولادو ویلډونو کې، دا سپارښتنه کیږي چې د دواړو خواوو کنټرول شوي حجم سونیکیټ کولو لپاره د شین څپو څخه کار واخلئ، پداسې حال کې چې وروستۍ نیمه څپه معمولا د ویلډ بیول کې د نیمګړتیاوو څخه د سپیکولر انعکاس ترلاسه کولو لپاره کارول کیږي.
په ټیټو فریکونسیو کې، د سټینلیس سټیل ویلډونو د نږدې بیول ازموینې لپاره ورته د شین څپې میتود کارول کیدی شي، مګر د آسټینیټیک ویلډ موادو له لارې د ازموینې لپاره د اعتبار وړ ندي. برسېره پردې، د CRA ویلډونو په نوم یادیږي، د کاربن سټیل پایپ دننه قطر کې د زنګ مقاومت لرونکي الیاژ کوټینګ شتون لري، او د کراس بیم د تار جمپر وروستۍ نیمایي په مؤثره توګه نشي کارول کیدی.
راځئ چې د نمونې کشف کولو میتودونو ته وګورو چې د پورټ ایبل UT وسیلې او سافټویر په کارولو سره کارول کیږي، لکه څنګه چې په شکل 1 کې ښودل شوي.
دوه اړخیزه دوه بعدي صف ټرانسډوسرونه چې د 30 څخه تر 85 درجو پورې د P-څپې انعکاس شوي بیمونه تولیدوي چې د بشپړ حجم پوښښ لپاره کارول کیدی شي. د 15 څخه تر 50 ملي میتر پورې د دیوال ضخامت لپاره، د 1.5 څخه تر 2.25 MHz پورې فریکونسۍ مناسب ګڼل کیږي، چې د سبسټریټ د کمښت پورې اړه لري.
د صف پروب عناصرو د ویج زاویه او ترتیب غوره کولو سره، د انعکاسي زاویې سکینونو پراخه لړۍ په مؤثره توګه د اړونده اړخ لوبونو پرته رامینځته کیدی شي (شکل 2). د پیښې په الوتکه کې د ویج نوډ فوټ پرینټ کم شوی، چې د بیم د وتلو نقطه ته اجازه ورکوي چې د امکان تر حده ویلډ ته نږدې موقعیت ولري.
د TRL حالت کې د معیاري 2.25 MHz 10 x 3 دوه ګوني صف صف فعالیت د 25 ملي میتر دیوال ضخامت 304 سټینلیس سټیل پلیټ ویلډ کې ارزول شوی و. د ازموینې نمونو یو عادي V شکل لرونکی سلپ او "لکه څنګه چې ویلډ شوی" سطح حالت درلود او د ویلډ سره موازي ریښتیني او ښه مستند شوي ویلډ نیمګړتیاوې درلودې.
وريجې. ۳. د ۳۰۴ سټینلیس سټیل پلیټ ویلډ په اړه د معیاري ۲.۲۵ MHz ۱۰ x ۳ دوه ګوني صف (TRL) صف لپاره د مرحلې شوي صف ګډ معلومات.
په انځور کې. ۳ د ویلډ په ټوله اوږدوالي کې د ټولو انعکاس زاویو (له ۳۰ درجو څخه تر ۸۵ درجو پورې) لپاره د ګډ PAR ډیټا انځورونه ښیې. د ډیټا ترلاسه کول په ټیټه ګټه کچه ترسره شوي ترڅو د لوړ انعکاس نیمګړتیاو د سنتریت مخه ونیول شي. د ۱۶-بټ ډیټا ریزولوشن د مختلف ډوله نیمګړتیاو لپاره مناسب نرم ګټه تنظیماتو ته اجازه ورکوي. د پروجیکشن شټر په سمه توګه موقعیت ورکولو سره د ډیټا تشریح اسانه کیدی شي.
د ورته یوځای شوي ډیټاسیټ په کارولو سره رامینځته شوي یو واحد نیمګړتیا انځور په شکل 4 کې ښودل شوی. پایله وګورئ:
که تاسو نه غواړئ چې د تفتیش څخه مخکې پلګ لرې کړئ، د تفتیش بله طریقه د پایپ ویلډونو کې د محوري (ټرانسورس) درزونو کشفولو لپاره کارول کیدی شي: د ویلډ پلګ "ټکولو" لپاره د نبض ایکو حالت کې د واحد صف صف پروب کارول کیدی شي. د غږ بیم له لاندې څخه لکه څنګه چې د غږ بیم په عمده توګه په سبسټریټ کې خپریږي، د شین څپې کولی شي په باوري ډول د ویلډ نږدې اړخ کې نیمګړتیاوې کشف کړي.
په مثالي توګه، ویلډونه باید په څلورو بیم لارښوونو کې معاینه شي (شکل 5) او اړتیا لري چې دوه متناسب ویجونه د مخالفو لارښوونو څخه معاینه شي، د ساعت په لور او د ساعت په مقابل کې. د صف د انفرادي عناصرو د فریکونسۍ او اندازې پورې اړه لري، د ویج اسمبلۍ د سکین محور د سمت په پرتله د 40 درجو څخه تر 65 درجو پورې د انعکاس زاویې ترلاسه کولو لپاره غوره کیدی شي. له 50 څخه ډیر وړانګې په هر لټون حجره کې راځي. د متحده ایالاتو د PA یو پیچلی وسیله چې د جوړ شوي کیلکولیټر سره په اسانۍ سره کولی شي د مختلف سکیو سره د تمرکز قوانینو سیټونو تعریف سره معامله وکړي، لکه څنګه چې په شکل 6 کې ښودل شوي.
معمولا، د چکونو دوه کرښې لړۍ د چک د مقدار بشپړ پوښښ لپاره کارول کیږي. د دوو سکین لینونو محوري موقعیتونه د پایپ ضخامت او د ویلډ ټیپ پلنوالي څخه ټاکل کیږي. لومړۍ سکین لاین د ویلډ څنډې ته د امکان تر حده نږدې ځي، د ویلډ په ریښه کې موقعیت لرونکي نیمګړتیاوې څرګندوي، او دوهم سکین لاین د HAZ پوښښ بشپړوي. د پروب نوډ اساس ساحه به غوره شي ترڅو د بیم د وتلو نقطه د تاج د ګوتې ته د امکان تر حده نږدې وي پرته له دې چې په ویج کې د پام وړ داخلي انعکاسونه ولري.
د تفتیش دا طریقه د غلط لارښوونې محوري نیمګړتیاوو په کشفولو کې خورا مؤثره موندل شوې ده. په شکل 7 کې د سټینلیس سټیل ویلډ کې د محوري درز په اړه اخیستل شوی مرحله ای صف انځور ښیې: نیمګړتیاوې د تمایل په مختلفو زاویو کې وموندل شوې او لوړ SNR لیدل کیدی شي.
شکل ۷: د سټینلیس سټیل ویلډینګ کې د محوري درزونو لپاره د مرحلې ترتیب شوي معلومات (مختلف SW زاویې او تمایلات): دودیز پروجیکشن (کیڼ اړخ ته) او قطبي پروجیکشن (ښي اړخ ته).
د راډیوګرافۍ د بدیل په توګه د پرمختللي PA UT ګټې په تیلو او ګازو، بریښنا تولید، تولید او نورو صنعتونو کې چې د آسټینیټیک ویلډونو په باوري تفتیش تکیه کوي پاملرنه راجلبوي. په ورته ډول، په بشپړ ډول مدغم شوي PA UT وسایل، ځواکمن فرم ویئر او 2D سرې پروبونه دوام لري ترڅو دا تفتیشونه ډیر ارزانه او اغیزمن کړي.
ګای میس د زیټیک د UT لپاره د پلور رییس دی. د پرمختللي الټراساؤنډ میتودونو پراختیا او پلي کولو، وړتیا ارزونې او سافټویر پراختیا کې له 25 کلونو څخه ډیر تجربه لري. د نورو معلوماتو لپاره، (425) 974-2700 ته زنګ ووهئ یا www.zetec.com ته مراجعه وکړئ.
سپانسر شوي مواد یوه ځانګړې تادیه شوې برخه ده چې پکې د صنعت شرکتونه د کیفیت لرونکي، بې طرفه، غیر تجارتي مواد په هغو موضوعاتو چمتو کوي چې د کیفیت لرونکي لیدونکو لپاره په زړه پورې وي. ټول سپانسر شوي مواد د اعلاناتو شرکتونو لخوا چمتو کیږي. زموږ د سپانسر شوي موادو برخه کې د ګډون کولو لیوالتیا لرئ؟ له خپل سیمه ایز استازي سره اړیکه ونیسئ.
ځکه چې مسلې ډیری وختونه د تنظیمي بیاکتنو په جریان کې راپورته کیږي، نو د بدلون مدیریت اصولو پوهیدل تر بل هر وخت ډیر مهم دي. دا ویبینار د بدلون مدیریت عمومي اصولو، د کیفیت مدیریت سیسټم (QMS) د کلیدي برخې په توګه د هغې رول، او د کیفیت تضمین نورو مهمو پروسو لکه اصلاحي/مخنیوي عمل (CARA) او روزنې سره د هغې اړیکې په اړه بحث کوي.
له موږ سره یوځای شئ ترڅو زده کړئ چې څنګه د درې بعدي میټرولوژي حلونه خپلواک ډیزاینرانو او تولید کونکو ته د دوی د اندازه کولو اړتیاو پوره کولو لپاره ډیر کنټرول تحرک ورکوي پداسې حال کې چې د دوی وړتیاوې 75٪ زیاتوي. د نن ورځې په ګړندۍ بازار کې، ستاسو سوداګرۍ باید د اتومات کولو پیچلتیا له منځه وړلو، د کاري جریان ښه کولو، او د تولید زیاتولو لپاره د عصري ټیکنالوژۍ څخه ګټه پورته کولو وړتیا ولري.
د خپلې خوښې پلورونکي ته د وړاندیز غوښتنه (RFP) وسپارئ او د خپلو اړتیاو په اړه په تفصیل سره تڼۍ کلیک وکړئ.